產品簡介:
HP9000LED芯片光色電參數綜合測試儀由LED光色電特性分析系統和LED芯片測試平臺組成。專用芯片測量平臺由樣品臺,三維探針架,光強測試支架,顯微鏡和電路控制盒等部分構成,光強測量需用CIE-A條件,光纖耦合,能夠快速平穩地點亮各種LED芯片,配合光譜測試系統即可測量芯片的各種光電色參數,具有測量參數分檔顯示功能,方便與各種分光分色測試機配置。 聯系方式聯 系 人: 李文青女士 在線聯系:
電 話: 0571-89900037-8005 移動電話: 15267151477
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